半导体冷热冲击试验机厂家

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产品标题：半导体冷热冲击试验机

产品分类：冷热冲击试验箱

半导体冷热冲击试验机0769-22851840为了保证试验箱降温速率和最低温度的要求，本试验箱采用一套进口法国“泰康”全封闭压缩机所组成的二元复叠式风冷制冷系统。复叠制冷系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环;原装进口液晶显示触控式莹幕直接按键型控制

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产品详情

一半导体冷热冲击试验机技术参数：
半导体冷热冲击试验机温度范围：高温箱：+60℃～200℃；
低温箱：0℃～-70℃；
温度波动度：±0.5℃;
温度均匀：±2℃;
升温速率：≤5℃/min；(全程平均)
降温速率：≤5℃/min；；(全程平均)
预冷下限温度：≤-70℃;
冲击温度：+150～-60℃;
样品架尺寸:150×150mm;
温度恢复时间：5min;
样品架转换时间：≤10s;
电源：380V±10﹪50Hz
二、半导体冷热冲击试验机产品特点；
◆采用伺服冷媒流量控制技术有效达到节能40%以上
◆ 实验循环进行，有效达到3天除霜一次，除霜只需2小时
◆ 采用纯铝翅片蒸发器，有效降低储能时间和能量节省
◆ 具有两箱和三箱测试功能，符合测试规范
◆ 世界首创观察视窗，有效达到物测目视效果
◆ 实时实验曲线分析，配备RS232，USB数据存储连接
◆ 具有报警提示即解出报警装置画面图文解说
◆ 试验结束待测品自动回常温避免结霜结露保护机制
三、半导体冷热冲击试验机满足标准：
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验
4、GJB150.5-86温度冲击试验；
5、GJB360.7-87温度冲击试验；
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
11、GB/T 2423.22-2002温度变化
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
四、半导体冷热冲击试验机概要：
半导体冷热冲击试验机是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂，军工，研位，电器等企业单位。
半导体冷热冲击试验机为了保证试验箱降温速率和最低温度的要求，本试验箱采用一套进口法国“泰康”全封闭压缩机所组成的二元复叠式风冷制冷系统。复叠制冷系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环;原装进口液晶显示触控式莹幕直接按键型控制器,中文表示7.5”的图形之广视角,高对比附可调背光功能之大型LCD液晶显示控制器。

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