使用非饱和加速老化试验箱时应注意的事项

文章出处：www.asli163.com编辑：admin作者：asli898@163.com人气：发表时间：2015-05-26 17:04【大中小】

　　近年来,Hast非饱和加速老化试验箱随着钕铁硼、半导体、溥膜、汽车、电子、化工等市场的稳步发展,客户试验需求心理日趋成熟,多元化的试验需求特征也日益明显；同时,科研单位、质检院和高校试验室对环境人工三防试验的快速启动,进一步催化了环试市场。从客户的角度出发,多用途和高性价比并重已成为购买盐雾腐蚀试验箱的首要考虑因素。另外产品品牌、质量、价格、服务等因素往往也是客户重要的参考依据。

　　非饱和加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力（如：温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

　　非饱和加速老化试验箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元气件在高低温或湿热环境下、检验其各性能指标规格与技术质量。