HAST高压加速老化试验箱压力装置

文章出处：www.asli168.com编辑：admin作者：艾思荔人气：发表时间：2016-04-19 13:28【大中小】

HAST高压加速老化试验箱压力装置

HAST高压加速老化试验箱特性:
HAST高压加速老化试验箱试验过程自动运转至完成结束，使用简便。
三重压力安全保护装置，采用控制器内部两段式超温保护+机械式压力安全保护装置。
手动安全保护排压伐，警急安全装置两段式自动排压伐。
双重过热保护装置：当锅内温度过高时，机器鸣叫警报并自动切断加热电源。
LED数字型温度控制器可作精确试验温度之设定、控制及显示，PID控制，误差±0.1℃。
LED数字型定时器，当锅内温度到达后才开始计时以确保试验完全。
开始运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到最佳蒸气质量。
精准的指针式压力指示，误差±0.1。
锅内安全装置：锅门若未关紧则机器无法启动。
安全阀：当锅内压力超过最大工作值自动排气泄压。
门盖保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤。
一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。
HAST高压加速老化试验箱技术优势：
独家采用全自动补充水位之功能，试验永不中断.
试验过程的温度、湿度、压力，是真正读取相关传感器的读值来显示的，而不是通过温湿度的饱和蒸汽压表计算出来的，能够真正掌握实际的试验过程。
干燥设计，试验终止采用电热干燥设计确保测试区(待测品)的干燥，确保稳定性。
精准的压力/温度对照显示，完全符合温湿度压力对照表要求。
HAST高压加速老化试验箱用途：
  HAST高压加速老化试验箱的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
  用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
  随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了最新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST)现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。注意事项：USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)。
  HAST高压加速老化试验箱设计原理：工作室为圆筒状，在工作室的底部可存水，另配置加热管，在做试验时把水烧成蒸汽，水因蒸发产生压力，以达到产品试验所要求的温度，湿度，压力条件。

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