浅析pct高压老化试验箱使用寿命延长
pct高压老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
pct高压老化试验箱安全保护：
试验时全程检测超温超压保护，一阶段仪表内部超gao温保护，二阶段仪表内部加湿器缺水保护，高压力保护，水箱 缺水报警断电，二阶段加湿管极限温度保护，二阶段超gao压保护，三阶段紧急泄压保护，手动泄压保护，自动泄压等。
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